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快速溫變控溫卡盤MD -75℃廢氣冷凝回收裝置

簡要描述:【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。快速溫變控溫卡盤MD -75℃廢氣冷凝回收裝置

  • 產(chǎn)品型號:LTS-202
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-01-11
  • 訪  問  量:899
詳情介紹
品牌LNEYA/無錫冠亞冷卻方式水冷式
價格區(qū)間10萬-50萬產(chǎn)地類別國產(chǎn)
儀器種類一體式應用領域化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車



無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司的半導體控溫解決方案

主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,

?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。




【 冠亞制冷 】半導體行業(yè)主營控溫產(chǎn)品:

半導體專溫控設備

射流式?低溫沖擊測試機

半導體專用溫控設備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)

Chiller直冷型

循環(huán)風控溫裝置

半導體?低溫測試設備

電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源

射流式高低溫沖擊測試機

快速溫變控溫卡盤

數(shù)據(jù)中心液冷解決方案


型號FLT-002FLT-003FLT-004FLT-006FLT-008FLT-010FLT-015
FLT-002WFLT-003WFLT-004WFLT-006WFLT-008WFLT-010WFLT-015W
溫度范圍5℃~40℃
控溫精度±0.1℃
流量控制  10~25L/min  5bar max15~45L/min  6bar max25~75L/min  6bar max
制冷量at10℃6kw8kw10kw15 kw20kw25kw40kw
內(nèi)循環(huán)液容積4L5L6L8L10L12L20L
膨脹罐容積10L10L15L15L20L25L35L
制冷劑R410A
載冷劑硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等  (DI溫度需要控制10℃以上)
進出接口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG3/4ZG3/4ZG1ZG1
冷卻水口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG1ZG1ZG1ZG1 1/8
冷卻水流量at20℃1.5m3/h2m3/h2.5m3/h4m3/h4.5m3/h5.6m3/h9m3/h
電源380V3.5kW4kW5.5kW7kW9.5kW12kW16kW
溫度擴展通過增加電加熱器,擴展-25℃~80℃





快速溫變控溫卡盤MD -75℃廢氣冷凝回收裝置

快速溫變控溫卡盤MD -75℃廢氣冷凝回收裝置


射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。

是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。

溫度控制范圍:-120℃ 至+300℃,升降溫速率?常快速,150℃?-55℃<10秒,zui??流量:30m3/h;

實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現(xiàn)閉環(huán)反饋,實時調(diào)整?體溫度升降溫時間可控,程序化操作、?動操作、遠程控制


  半導體芯片高低溫測試機是用于模擬不同溫度環(huán)境下的半導體芯片性能測試,在使用半導體芯片高低溫測試機時,有一些注意事項需要遵守,以確保測試結果的準確性和設備的安全使用。

  電源管理芯片溫度測試系統(tǒng)是用于測試半導體芯片在不同溫度環(huán)境下的性能和可靠性的重要設備,在選購這類測試設備時,需要考慮以下幾個要點:

  1、溫度范圍:根據(jù)測試需求,確定所需測試的溫度范圍。電源管理芯片溫度測試系統(tǒng)應能夠在一定范圍內(nèi)提供穩(wěn)定的溫度控制,以確保測試結果的準確性和可重復性。

  2、測試樣品尺寸:考慮將要測試的半導體芯片的尺寸和形狀,確保測試樣品能夠正確地安裝到測試機中,并且不會受到機械應力或過熱的影響。

  3、溫度穩(wěn)定性:電源管理芯片溫度測試系統(tǒng)的溫度穩(wěn)定性對其測試結果有很大影響。應選擇能夠在所需溫度范圍內(nèi)保持穩(wěn)定溫度的測試機,以保證測試結果的可靠性。

  4、加熱和冷卻速度:加熱和冷卻速度會影響測試效率,特別是對于需要快速溫度變化的測試。選擇具有快速加熱和冷卻能力的測試機可以縮短測試時間,提升工作效率。

  5、溫度均勻性:測試機內(nèi)部各個位置的溫度應盡可能均勻,以確保所有測試樣品在相同的溫度條件下進行測試。這將有助于獲得準確的測試結果,并避免因溫度不均而導致測試結果的可重復性差。



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