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半導體芯片生產(chǎn)Chiller,元器件測試

簡要描述:半導體芯片生產(chǎn)Chiller,元器件測試的典型應用:
適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

  • 產(chǎn)品型號:TES-4555
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-01-01
  • 訪  問  量:1116
詳情介紹
品牌LNEYA/無錫冠亞產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域石油,能源,電子,汽車,電氣

 元器件測試用設(shè)備

 

適合元器件測試用設(shè)備

在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

 

元器件測試用設(shè)備

 

無錫冠亞積探索和研究元件測試系統(tǒng),主要用于半導體測試中的溫度測試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-92℃~250℃,適合各種測試要求,解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題

 

 

型號KRY-455
KRY-455W
KRY-475
KRY-475W
KRY-4A10
KRY-4A10W
KRY-4A15
KRY-4A15W
KRY-4A25
KRY-4A25W
KRY-4A38WKRY-4A60W
溫度范圍-40℃~+100℃
控溫精度±0.5℃
溫度反饋Pt100
溫度顯示0.01k
流量輸出1~10L/min1~25L/min1~25L/min1~40L/min1~40L/min5~50L/min5~50L/min
關(guān)于流量說明/當溫度低于-30度時,大流量為25L/min當溫度低于-30度時,大流量為30L/min
流量控制精度±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min
壓力顯示采用江森自控壓力傳感器,觸摸屏上顯示壓力,可進行壓力控制調(diào)節(jié) 
加熱功率5.5kW7.5kW10kW10kW
選配15kW
15kW
選配25kW
25kW
選配38kW
38kW
選配60kW
制冷量100℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
20℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
0℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
-20℃2.8kW4.5kW6kW10kW16kW25kW35kW
-35℃1.2kW1.8kW2.5kW4kW6.5kW10kW15kW
壓縮機艾默生谷輪渦旋柔性壓縮機
膨脹閥艾默生/丹佛斯熱力膨脹閥
油分離器艾默生
干燥過濾器艾默生/丹佛斯
蒸發(fā)器丹佛斯/高力板式換熱器
輸入、顯示7寸彩色觸摸屏西門子S7-1200 PLC控制器
程序編輯可編制10條程序,每條程序可編制40段步驟
通信CAN通信總線
安全保護具有自我診斷功能;冷凍機過載保護;高壓壓力開關(guān),過載繼電器、熱保護裝置、低液位保護、高溫保護、傳感器故障保護等多種安全保障功能
是否為全密閉系統(tǒng)整個系統(tǒng)為全密閉系統(tǒng),高溫時不會有油霧、低溫不吸收空氣中水份,系統(tǒng)在運行中不會因為高溫使壓力上升,低溫自動補充導熱介質(zhì)。
制冷劑R404A/R507C
接口尺寸G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4
水冷型at25度1100L/H1500L/H2000L/H2800L/H4500L/H7000L/H12000L/H
水冷冷凝器帕麗斯/沈氏套管式換熱器
風冷型冷凝器銅管鋁翅片換熱器(上出風形式)
電源 380V50HZ12kW max15kW max20kW max29kW max42kW max58kW max84kW max
水冷尺寸cm55*95*17555*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185145*205*205
風冷尺寸cm55*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185  
重量250kg280kg320kg360kg620kg890kg1300kg
選配220V 60HZ三相  400V 50HZ三相  440V 60HZ三相
選配溫度擴展到-40℃~+135℃
選配更高精度控制溫度、流量、壓力
選配自動加注防凍液系統(tǒng)
選配自動液體回收系統(tǒng)

 

半導體芯片生產(chǎn)Chiller,元器件測試

半導體芯片生產(chǎn)Chiller,元器件測試

  測試結(jié)果通過通信接口傳送給分選機,分選機據(jù)此對被測試的集成電路進行標記、分選、收料或編帶。

  成品測試的目的是把好的和壞的芯片分別挑出來,只有好的芯片才會被銷售給終端客戶,以保證芯片出貨時的良率。

  測試機定制化,探針臺、分選機通用

  測試機、探針臺、分選機所應用的環(huán)節(jié)并不相同,其技術(shù)難度也各有差異。測試機屬于定制化設(shè)備,探針臺、分選機則更加通用。

  1、測試機由機身和內(nèi)部的測試板卡構(gòu)成,均由測試機廠設(shè)計和制造。

  測試機機身是一種標準化的設(shè)備,內(nèi)部可以插入不同的測試板卡。測試機廠會設(shè)計出一系列的測試板卡,每一種測試板卡可以滿足對某些功能的測試,測試廠在做芯片測試的時候,需要根據(jù)芯片的功能特性選擇不同的測試板卡進行搭配。

此外,每一種芯片都需要編寫一套*的測試程序。因此,測試機的定制性主要體現(xiàn)在測試板卡的定制和測試程序的定制。

元器件測試用設(shè)備

 

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