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集成電路芯片測試中芯片原理說明

 更新時間:2019-03-13 點擊量:769

  集成電路芯片測試是用于芯片測試中的,但是,芯片的種類是比較多,在進行集成電路芯片測試之前,我們需要對芯片的運行原理了解清楚。

集成電路芯片測試

  開關(guān)電源是一種電壓轉(zhuǎn)換電路,主要的工作內(nèi)容是升壓和降壓,廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代電子產(chǎn)品。因為開關(guān)三管總是工作在“開” 和“關(guān)” 的狀態(tài),所以叫開關(guān)電源,開關(guān)電源芯片一般由脈沖寬度調(diào)制控制ICMOSFET構(gòu)成,開關(guān)電源ic是指開關(guān)電源的脈寬控制集成,電源靠它來調(diào)整輸出電壓電流的穩(wěn)定。

  集成電路芯片測試中電源芯片變換是將交流變換為直流,其功率流向可以是雙向的,功率流由電源流向負載的稱為“整流”,功率流由負載返回電源的稱為“有源逆變”。AC/DC變換器輸入為50/60Hz的交流電,因必須經(jīng)整流、濾波,因此體積相對較大的濾波電容器是不可少的,同時因遇到安全標準及EMC指令的限制,交流輸入側(cè)必須加EMC濾波及使用符合安全標準的元件,這樣就限制AC/DC電源體積的小型化。

  由于內(nèi)部的高頻、高壓、大電流開關(guān)動作,使得解決EMC電磁兼容問題難度加大,也就對內(nèi)部高密度安裝電路設(shè)計提出了很高的要求,由于同樣的原因,高電壓、大電流開關(guān)使得電源工作損耗增大,限制了AC/DC變換器模塊化的進程,因此必須采用電源系統(tǒng)優(yōu)化設(shè)計方法才能使其工作效率達到一定的滿意程度。

  從器件選擇,牢靠性目的達成上看,AC/DC設(shè)計比DC/DC難做。從上面的描繪來看,AC/DC直接面臨高壓,輸入端器件的選擇,特別是功率MOSFET,電壓越高,導(dǎo)通壓降和開關(guān)損耗越大,電源的熱設(shè)計越難滿足,其它二管,三管同樣也存在這樣的問題,高壓難選,低壓好選。同時AC/DC電源需求契合的安規(guī)等遠比DC/DC高。從電路構(gòu)造來看AC/DC普通要兩變換,而DC/DC只需一變換即可,而且DC/DC運用的主功率變換電路相比之下也是比擬簡單。集成電路芯片測試專業(yè)測試各種開關(guān)電源的芯片中,用戶在選擇的時需要靠譜廠家進行選購。

  集成電路芯片測試設(shè)備的測試的芯片是比較多的,用戶在使用集成電路芯片測試裝置的時候,對于每種芯片的原理了解比較好。

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